Pruebas de evaluación

BLOQUE 1: ARQUITECTURA INTERNA DE LOS MICROPROCESADORES

• Tema 1: Introducción de la Asignatura
• Tema 2: Arquitectura Interna de una CPU
• PE-F-021. Evaluación ( PDF ). PE-FS-021 Solución ( PDF ). PE-E-021 Test dinámico ( HTML ).
• Tema 3: Lenguaje Ensamblador
• PE-F-031. Evaluación ( PDF ). PE-FS-031 Solución ( PDF ). PE-E-031 Test dinámico ( HTML ).

BLOQUE 2: DESARROLLO BASADO EN MICROCONTROLADORES

• Tema 4: Entorno de Desarrollo
• PE-F-041. Evaluación ( PDF ). PE-FS-041 Solución ( PDF ). PE-E-041 Test dinámico ( HTML ).
• Tema 5: Pines de Entrada/Salida de Propósito General
• PE-F-051. Evaluación ( PDF ). PE-FS-051 Solución ( PDF ). PE-E-051 Test dinámico ( HTML ).
• Tema 6: Conversión Analógico/Digital y Digital/Analógico
• PE-F-061. Evaluación ( PDF ). PE-FS-061 Solución ( PDF ). PE-E-061 Test dinámico ( HTML ).
• Tema 7: Interrupciones y EXTI
• PE-F-071. Evaluación ( PDF ). PE-FS-071 Solución ( PDF ). PE-E-071 Test dinámico ( HTML ).
• Tema 8: Temporización
• PE-F-081. Evaluación ( PDF ). PE-FS-081 Solución ( PDF ). PE-E-081 Test dinámico ( HTML ).

BLOQUE 3: USO DE CAPAS DE ABSTRACCIÓN

• Tema 9: Uso de Abstracción Hardware
• PE-F-091. Evaluación ( PDF ). PE-FS-091 Solución ( PDF ). PE-E-091 Test dinámico ( HTML ).
• Tema 10: Comunicación Serie Asíncrona: USART
• PE-F-101. Evaluación ( PDF ). PE-FS-101 Solución ( PDF ). PE-E-101 Test dinámico ( HTML ).
• Tema 11: Comunicación Serie Síncrona: I2C, SPI
• PE-F-111. Evaluación ( PDF ). PE-FS-111 Solución ( PDF ). PE-E-111 Test dinámico ( HTML ).
• Tema 12: Diseño de Soluciones y Funciones Especiales: RTC, Watchdog y Consumo
• PE-F-121. Evaluación ( PDF ). PE-FS-122 Solución ( PDF ). PE-E-121 Test dinámico ( HTML ).